Патенты

Патенты

Способ изготовления SERS-активной подложки

Авторы: С.А. Бедин, Е.П. Кожина.

Изобретение относится к области технологии создания наноструктурированных материалов для сверхчувствительной диагностики состава и строения органических веществ методом SERS-спектроскопии. Для изготовления SERS-активной подложки получают шаблон, представляющий собой полимерную пленку толщиной 10-20 мкм с массивом сквозных, по существу, одинаковых цилиндрических каналов диаметром 20-2000 нм, поверхностной плотностью 10⁵-10⁹ см^-2. Наносят на одну из больших сторон упомянутого шаблона плазмонный токопроводящий материал с образованием на ее поверхности сплошного слоя толщиной 50-100 нм. Затем наносят поверх него слой металла толщиной 10-20 мкм посредством гальванического осаждения с образованием основания. Заполняют упомянутые каналы упомянутого шаблона с противоположной от основания стороны плазмонным материалом посредством контролируемого электрохимического осаждения. Удаляют упомянутый шаблон с образованием на упомянутом основании массива выступов. Технический результат – получение SERS-активной подложки с оптимальным сочетанием механических и оптических характеристик при одновременном повышении технологичности процесса ее изготовления.

Патент Российской федерации № 2787341. МПК H01L 21/77 (2006.01), G01N 21/65 (2006.01). – 10 с. – № 2022108756; заявл. 01.04.2022; опубл. 09.01.2023, Бюл. № 1.

Заявка на изобретение № 2022133943 «Картридж для сбора и анализа мелкодисперсных частиц»

Авторы: С.А. Бедин, Н.П. Ковалец, Е.П. Кожина, И.В. Разумовская.

Изобретение относится к области технологии создания структурированных материалов для сверхчувствительной диагностики состава и строения органических веществ методом SERS-спектроскопии. Картридж для сбора и анализа мелкодисперсных частиц, содержащий корпус и установленное в нем средство для улавливания мелкодисперсных частиц, имеющее возможность поверхностного усиления рамановского рассеяния света. Технический результат заключается в обеспечении максимального усиления SERS-сигнала без снижения качества улавливания мелкодисперсных частиц.

Дата приоритета: 22.12.2022.

Заявка на изобретение № 2022133942 «Способ определения степени локального растрескивания покрытия из плазмонного металла, нанесенного на диэлектрического подложку, и способ получения эталонного покрытия для его осуществления»

Авторы: С.А. Бедин, Н.П. Ковалец, И.В. Разумовская, А.В. Наумов

Заявленная группа изобретений относится к области неразрушающего контроля и может быть использована для диагностики повреждений металлических покрытий, в том числе, изделий, используемых в сложных эксплуатационных условиях, а также для тестирования металлических покрытий при проведении испытаний при конструировании изделий. Заявленная группа изобретений позволяет обеспечить высокую достоверность результатов исследования металлического покрытия при одновременном обеспечении простоты исследования.

Дата приоритета: 22.12.2022.

Заявка на изобретение № 2022126503 «Способ изготовления пленочного нагревательного элемента и пленочный нагревательный элемент, изготовленный таким способом»

Авторы: С.А. Бедин, Д.В. Панов, П.Ю. Апель, Е.П. Кожина.

Заявленная группа изобретений относится к области гибкой электроники. Техническая проблема, решаемая заявленной группой изобретений, состоит в создании пленочного нагревательного элемента на основе композитной плёнки из полимерного материала с массивом контактирующих токопроводящих длинномерных элементов («нанопроволок») внутри нее. При этом достигается технический результат, заключающийся в повышении надежности нагревательного элемента и технологичности его изготовления при одновременном сохранении высокого качества нагрева. Описанный выше нагревательный элемент может быть использован в системах антизапотевания (для очков, экранов), в медицинских приборах для прогревания, в качестве термобарьерного покрытия.

Дата приоритета: 11.10.2022.

Программы для ЭВМ

Программа для нанотрекинга люминесцирующих наночастиц

Авторы: Баев А.А., Роженцов А.А., Наумов А.В.

Программа предназначена для обнаружения и распознавания параметров люминесцирующих наночастиц при решении задачи их трекинга. В качестве исходных данных используются изображения, полученные с камеры электронного микроскопа. Алгоритм обработки данных позволяет выполнить предварительное обнаружение излучателей в каждом кадре с последующей оценкой их параметров. В основе алгоритма обнаружителя лежат принципы согласованной фильтрации в частотной области изображения. Для оценки параметров применяется метод Левенберга-Марквардта, при этом учитывается влияние соседних излучателей.

Дата регистрации в реестре: 29 ноября 2022. Свидетельство № 2022682922.

Программа для построения люминесцентных топограмм на основе анализа люминесцентных изображений в микроскопии сверхвысокого разрешения

Авторы: Аржанов А.И., Наумов А.В.

Программа предназначена для построения двумерной карты распределения интенсивности люминесценции (люминесцентной топограммы) на основе анализа люминесцентных изображений, полученных методом спектромикроскопии высокого пространственного разрешения. Алгоритм использует экспериментально-измеренные спектры люминесценции, полученные из дифракционно-ограниченного участка образца, производит математическое вычитание фоновой подставки в виде шума, анализирует положение, амплитуду и ширину линии. В зависимости от координаты образца, записанной в имени файла для каждого спектра, позволяет создавать топограммы, амплитуда сигнала в которых может быть выражена в качестве основных измеряемых параметров: максимальная интенсивность спектральной линии, ее ширина и положение в спектре (частота).
Функциональные возможности программы: позволяет находить значения максимальной интенсивности спектральных линий, определяет ширину и положение максимума в спектре путём аппроксимации данных в режиме реального времени. В зависимости от типа полученных при измерениях параметров позволяет формировать люминесцентные топограммы, которые могут быть использованы для характеризации люминесцентных материалов в наноскопическом масштабе.

Дата регистрации в реестре: 29 марта 2022. Свидетельство № 2022615042.

Программа для расчета фазового профиля дифракционного оптического элемента, формирующего двухлепестковое световое поле

Авторы: Баев А.А., Роженцов А.А., Наумов А.В., Еремчев И.Ю.

Программа предназначена для обнаружения двулепестковых изображений люминесцирующих наночастиц при решении задачи формирования трехмерных наноскопических изображений. Алгоритм использует информацию о положении эталонных двулепестковых изображений флуоресцирующих наночастиц в нулевом кадре для обнаружения наиболее близких, по координатам, к эталонным отметкам в пакете кадров.
Функциональные возможности программы: обнаруживает двулепестковые изображения люминесцирующих наночастиц при решении задачи формирования трехмерных наноскопических изображений.

Дата регистрации в реестре: 21 января 2022. Свидетельство № 2022611212.