Оборудование, приобретенное в рамках проекта
2022
- Атомно-силовой микроскоп NTEGRA для решения задач в области сканирующей зондовой микроскопии. Прибор реализует более 40 методик измерений, что позволяет анализировать физико-химические свойства поверхности с субнанометровым пространственным разрешением. Особенность микроскопа заключается в совмещении оптической схемы стенда и зондового способа анализа, что дает возможность получать картограммы распределения параметров поверхности образцов синхронно с регистрацией их оптико-спектральных характеристик.
- Непрерывный одномодовый волоконный лазер IPG Photonics с длиной волны 536 нм и пиковой мощностью 5 Вт. Обеспечивает оптическую накачку лазера на красителе Родамин 6G Coherent Cr-599.
- Микрообъектив Nikon CFI TU Plan Fluor EPI 100x с числовой апертурой 0.90 для точной фокусировки на образце при сканировании пьезоэлектрической платформой атомно-силового микроскопа NTEGRA.
- Пьезоэлектрическая платформа Thorlabs Ell14K для осуществления прецизионного программируемого поворота ахроматической волновой пластины и проведения поляризационных исследований перспективных материалов.
- Жидкокристаллический модулятор света Thorlabs NEL01 для оптического диапазона – высокоточный инструмент для стабилизации, модулирования и аттенюирования лазерного излучения. Низкий (на уровне 0.05%) уровень амплитудных колебаний интенсивности излучения на выходе из модулятора дает возможность проводить оптические эксперименты при заданной с высокой точностью мощности лазерного излучения.
2021
- Вакуумная напылительная установка SAHA для нанесения металлических покрытий из меди, серебра или золота на поверхность трековых мембран.
- Циркуляционный термостат с ванной LOIP LT-405a для химического удаления полимера при изготовления плазмонных метаповерхностей и освоения методики синтеза полупроводниковых НП из оксида цинка.
- Комплект оптических и оптомеханических компонент для формирования оптических схем различных экспериментальных и лабораторных установок.
- Измеритель мощности оптического излучения Thorlabs PM100d с набором детекторов, функционирующих в широком диапазоне длин волн (190 нм — 20 мкм) и мощностей лазерного излучения (50 нВт — 1 Вт).
2020
- Оптические столы с пневматической системой пассивной вибрационной изоляции (Standa) для размещения экспериментальных стендов.
- Одночастотный твердотельный непрерывный лазер (Hubner; модель OPO С-Wave; перестройка длины волны в видимом (450‒650 нм ± 1 нм) и ИК (900-1300 нм ± 2 нм) диапазонах спектра; ширина спектральной линии во всем спектральном диапазоне – менее 1 МГц) – источник излучения для проведения спектроскопических измерений.
- Измеритель мощности лазерного излучения (Thorlabs; набор сенсоров для разных диапазонов мощности)
- Монохроматор с компенсацией астигматизма (SOL Instruments; модель MS5204i; набор из четырех дифракционных решеток для работы в диапазоне длин волн 270‒1500 нм) для прецизионного спектрального анализа.
- Криогенно-вакуумная система замкнутого цикла со сверхнизким уровнем вибраций (криостат Advanced Research Systems CS204SF с максимальными вибрациями на уровне 5 нм по всем координатам) для проведения низкотемпературных экспериментов по оптической спектроскопии и люминесцентной микроскопии.
- Микрообъектив 50x Mitutoyo Plan Apo с длинным (40мм) передним отрезком для микроскопии при криогенных температурах при работе с криостатом замкнутого цикла ARS в составе с XYZ трансляционной платформой Thorlabs PT3A/M.
- Датчик нагрузки с системой подключения для оснащения универсальной испытательной машины (Shimadzu; модель AG-10kNX) для проведения реологических, физико-механических испытаний различных материалов и получения данных о деформационных параметрах исследуемых объектов.
Общий вид лаборатории химического синтеза метаповерхностей для SERS-спектроскопии
Работа на испытательной машине фирмы Shimadzu
На универсальной испытательной разрывной машине японской фирмы Shimadzu AG-10kNXPlus настольного типа мы исследуем образцы на растяжение. Датчик нагрузки на 50 Н позволяет проводить испытания полимерных пленок, композиционных материалов, тонких пленок металлов. Русифицированное программное обеспечение позволяет полностью контролировать процесс испытания серез ПК, а высокоскоростная выборка гарантирует точность полученной диаграммы растяжения. Во время испытания фиксируются любые внезапные изменения силы. Параметры условий выборки можно корректировать, что позволяет детально изучать важные области диаграммы растяжения.
Сейчас в Лабораторию активно приходят школьники старших классов и студенты МПГУ.
Общий вид лабораторного комплекса для люминесцентной наноскопии
Криогенно-вакуумная система замкнутого цикла со сверхнизким уровнем вибраций (криостат Advanced Research Systems CS204SF с максимальными вибрациями на уровне 5 нм по всем координатам) для проведения низкотемпературных экспериментов по оптической спектроскопии и люминесцентной микроскопии.
Одночастотный твердотельный непрерывный лазер (Hubner; модель OPO С-Wave; перестройка длины волны в видимом (450‒650 нм ± 1 нм) и ИК (900-1300 нм ± 2 нм) диапазонах спектра; ширина спектральной линии во всем спектральном диапазоне – менее 1 МГц) – источник излучения для проведения спектроскопических измерений.
Монохроматор с компенсацией астигматизма (SOL Instruments; модель MS5204i; набор из четырех дифракционных решеток для работы в диапазоне длин волн 270‒1500 нм) для прецизионного спектрального анализа.
NTEGRA атомно-силовой микроскоп
Оборудование лаборатории кафедры теоретической физики им. Э.В. Шпольского, УНЦ спектроскопии сложных органических соединений и УНЦ функциональных и наноматериалов
-
Лазеры и источники излучения – DPSS-лазер, азотный лазер, полупроводниковые лазерные модули, перестраиваемый лазер на красителе, ртутные и галогеновые лампы.
-
Светосильные спектрометры – ДФС, МДР, СДЛ и компактный автоматизированный спектрометр МСД-2.
-
Инвертированные оптические микроскопы Nikon Diaphot и Olympus IMT, оснащенные светосильными объективами и приставками для работы в режимах конфокального и широкопольного эпи-люминесцентного микроскопов с лазерным возбуждением
-
Детекторы – охлаждаемая камера Andor Luca с внутренним размножением электронов, чувствительные ПЗС-камеры CCD Pixel Fly, ПЗС – камеры (Видеоскан).
-
Люминесцентный спектрометр для исследования низкотемпературных сопряженных спектров люминесценции и спектров возбуждения флуоресценции.
-
Криогенное оборудование: заливные азотные и гелиевые криостаты (КБ ИФ НАНУ, Киев; RTI, Черноголовка), криоконтроллеры с температурными сенсорами LakeShore, транспортные сосуды Дьюара для проведения оптико-спектральных измерений в диапазоне от 4.2 К до комнатной.
-
Рентгеновский дифрактометр ДРОН-7 с высокотемпературной камерой Anton Paar HTK-1200.
-
Дифференциально-сканирующий калориметр Mettler-Toledo 322e и прецизионные весы Mettler-Toledo.
-
Модульный компактный реометр PHYSICA MCR301 с электро- и магнитореологическими ячейками.
-
Диэлектрический анализатор Novocontrol BDS 40 с термо-криокамерой.
- 3D принтер BiZon 2 Mini со светодиодной подсветкой, удаленным управлением (Raspberry Pi + OctoPrint), автоматической калибровкой, датчиком окончания нити и устройством eBOX для подачи и сушки пластика.
- Плита нагревательная лабораторная ПЛ-1818.
- Толщиномер DeFelsko PosiTector 6000 Standard с микродатчиком F051.
- Гомогенизатор цифровой SH-HZD-Set A (HZ1018, OSSR010, OSHC010), SH Scientific, Корея.
- Весы лабораторные A&D EJ-300.
- Насос вакуумный KNF N86KN.18.
Оборудование ЦКП “Структурная диагностика материалов” ФНИЦ “Кристаллография и фотоника” Российской академии наук
- Рентгенофлуоресцентный спектрометр Orbis
- Рентгеновский автоматизированный дифрактометр высокого разрешения SmartLab
- Настольный рентгеновский дифрактометр Miniflex 600
- Порошковый дифрактометр X’PERT PRO
- Малоугловой рентгеновский дифрактометр “SAXS 2D System 3”
- Монокристальные рентгеновские дифрактометры Xcalibur EOS и XtaLAB Synergy-DW
- Автоэмиссионный растровый электронно-ионный (FIB) микроскоп Scios
- Растровый электронно-ионный микроскоп FIB Quanta 200 3D
- Растровый электронный микроскоп с полевой эмиссией JSM-7401F
- Просвечивающие электронные микроскопы Tecnai: Osiris, G²30 ST и G²12 SPIRIT
- Исследовательский комплексы для атомно-силовой микроскопии NtegraPrima и Solver Pro M
- Сканирующий нанотвердомер НаноСкан-3D
- Лазерный конфокальный сканирующий микроскоп Leica TCS SPE
- Установка Novotherm-HT 1200 с измерителем импеданса Alpha-A ZG4
- Зондовая станция LA150DC
- Анализатор размера частиц и дзета потенциала DELSA NANO
- Прибор синхронного термического анализа Jupiter STA 449 F1
- Установка МЛЭ
- Масс-спектрометр с ионизацией в индуктивно связанной плазме iCAP Qс
- Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно связанной плазмой ICap
- Спектрофотометр UV-Vis-NIR Cary 5000
- Эллипсометр UVISEL NIR 2.1 AGMS
- Установка плазменной очистки Fiscione NanoClean 1070
- Установка Gatan 691 PIPS
- Проволочная алмазная пила B.Well
- Установка дисковой резки Struers Accutom 5
- Установка шлифовки металлографических срезов Struers LaboPol 5
- Установка механической обработки Leica TXP
- Установка ионного травления Hitachi IM4000 Plus
- Пробоподготовка образцов с помощью двулучевых РЭМ
